Time Interval Analyzer TA320
최고 연속sample rate:14MS/s
sample size:최대99,999,999
표시 분해능:100ps
touch screen
compact&light
고속 화면 갱신 rate
3.5inch FDD 탑재-측정 데이터 보존

TA320사양
측정 기능:
주기, 펄스폭, duty cycle
A to B interval
A to B to A interval
위상차
time stamp mode
측정범위:30ns~100ms
측정범위:50ns~100ms(TI측정시)
sample size:최대32000
hardware histogram mode
측정범위:30ns~3.2μs
측정범위:5ns~~3.2μs(TI측정시)
sample size:최대99,999,999
gate기능
내부 gate(time/event) 또는 외부 gate
time gate"1μs~10s
event gate:1~32000
Arming
내부 또는 외부
외부arming-time delay:1μs~1s
event delay:1~30000
외형크기:213(W)×132(H)×392(D)mm
질량:약 5kg

Time Interval Analyzer TA1100
단발 시간 분해능 1ps
내부jitter:20ps rms
DC~200MHz입력-범용입력 2ch
2GHz의 prescaler입력1ch장비
최대 10,000data의 대용량 메모리
내장 프린터3.5inch FDD standard

TA1100사양
측정 기능 사양
주파수
입력:A, B, C(C는1/64 pre scalier)사용
측정범위:0.025Hz~200MHz(A, B)
측정범위:100MHz~2.0GHz(C)
주기
입력:A, B, C(C는1/64 prescaler)사용
측정범위:5ns~40s(A, B)
측정범위:500ps~10ns(C)
Time interval
입력:A to B, B to A(+interval)
입력:A to B(±interval)
측정범위:0s~40s(A to B+TI)
측정범위:+10s~+40s(B to A+TI)
측정범위:-40s~+40s(A to B+TI)
펄스폭
입력:A, B
측정범위:5ns~40ns
jitter
입력:D
측정범위:50MHz~200MHz
외형크기:426(W)×198(H)×441(D)mm
질량:약 14.1kg